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在线优化颗粒与液滴工艺过程
采用 FBRM 技术的 ParticleTrack G600B 是直接插入到实验室反应器和某些生产过程中的多用途探头式仪器，以便在全工艺过程浓度下实时追踪颗粒和液滴粒径及粒数变化。 随着实验条件的变化，持续监测颗粒、颗粒结构和液滴为科学家提供足够证据以获得具有所需属性的一致颗粒。
颗粒粒径与粒数直接影响多相工艺中的性能，包括结晶、乳化和絮凝。 通过实时监测颗粒粒径与粒数，科学家能够使用基于证据的方法自信地了解、优化和放大实验过程。
在为离线分析进行采样和制备时，颗粒可能发生变化。 通过追踪过程中自然存在的颗粒的粒径与粒数的变化，科学家能够安全且无延迟地了解工艺过程 – 甚至是在极端温度与压力条件下。
随着实验参数的变化，通过连续监测颗粒，能够最后确定最佳操作条件。 在实验室和工厂中获得的证据可用于确保通过高质量的过程提供适合用途的颗粒。
• 实时研究颗粒粒径与粒数
科学家将 ParticleTrack 探头直接插入到过程流体中，以长时间连续监测颗粒粒径与粒数，而无需采样。 这种独特的信息成为有效了解涉及晶体、颗粒和液滴的过程的基础。
• 将过程与颗粒系统相关联
借助 ParticleTrack，科学家可以定期确定过程参数如何影响颗粒系统。 可以确定过程参数对生长、结块、破损和形状变化等机制的影响，从而可以使用基于证据的方法对过程进行优化和改进。
• 创建符合目的的颗粒系统
科学家使用 ParticleTrack 来确定如何稳定得到所需粒径和粒数的颗粒产品。 在研发、中试到投入生产的过程中，通过选择最佳的过程参数，科学家可以以较低的总成本快速向市场提供高品质的颗粒产品。
• 监测并纠正过程偏差
ParticleTrack 用于对生产中的既定过程进行监测、故障排除和改进。 可以安全地监测难以采样的复杂过程，确保一致地生产质量尽可能最高的颗粒。
| 产品名称 | G600B | G600/G600EX |
| G600Ex认证 | ATEX / IECEx Zone 1/21和Class 1 Div 1认证、CE认证、1级激光设备、NRTL认证 | |
| G600认证 | CE 认证， 1 类激光， NRTL 认证， CB Scheme 认证 | |
| ParticleTrack型号 | ParticleTrack G600B | 适用于中试工厂/生产的 ParticleTrack G600 加工技术 |
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主机尺寸 (高x宽x长) |
500 mm x 419 mm x 206 mm | 524 mm x 828 mm x 284 mm |
| 主机说明 | 不锈钢 316, 防水防尘4X, IP66级 | 不锈钢 316, 防水防尘4X, IP66级 |
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吹扫要求 （仅G600 Ex） |
压力： 4至8barg（60-120 psig）; 流量： 225 SLPM（8.0 SCFM） | |
| 导管长度 | 15m [49.2ft] | 15m [49.2ft] （标准）; 20m [65.6ft]（自定义） |
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弦长选择方法 (CSM) |
Primary（精细）和 Macro（粗糙） | Primary（精细）和 Macro（粗糙） |
| 扫描系统 | 气动 | 气动 |
| 扫描速度 | 2m/s | 2m/s |
| 探头/窗口选件 | 不适用 | TM 窗口; 电抛光 |
| 探头浸湿合金 | C22 | SS316 （标准）; C22 （可选） |
| 探头浸湿长度 | 400mm | R: 400mm; T: 400m; P: 1000mm; X: 自定义 |
| 探头直径 | 19mm探头 | 25mm |
| 标准窗口封条 | Kalrez® | Kalrez® |
| 测量范围 | 0.5 – 2000μm | 0.5 – 2000μm |
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温度范围 （主机/现场装置） |
0 至 45°C | G600： 0至45°C; G600Ex： 0至40°C |
| 电源要求 | 100-240VAC, 50/60Hz, 0.5A | 100-240VAC, 50/60Hz, 0.5A |
| 空气要求 | 扫描仪要求： 最小压力： 4barg [60psig]; 流量： 28.3 NL/min [1.0SCFM] | 扫描仪要求： 最小压力： 4barg [60psig]; 流量： 28.3 NL/min [1.0SCFM] |
| 窗口(W) | 蓝宝石 | 蓝宝石 |
| 认证 | CE 认证， 1 类激光， NRTL 认证， CB Scheme 认证 | CE 认证， 1 类激光， NRTL 认证， CB Scheme 认证 |
| 软件 | iC FBRM （标准）; 用于 FBRM 的 iC Process （可选） | iC FBRM （标准）; 用于 FBRM 的 iC Process （可选） |
| 适用于 | 实验室或生产 | 中试工厂或生产 |
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额定压力 （探头） |
10 barg | 10barg （标准）; 高达 250barg （自定义） |
|
额定温度 （探头）
|
-10至120°C | -10 至 120°C （标准）; -80 至 150°C （自定义） |
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ParticleTrack G400实时粒径与粒数分析仪
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