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ParticleTrack G400实时粒径与粒数分析仪

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ParticleTrack G400实时粒径与粒数分析仪

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实时粒径
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产品描述
参数

在实验室中研究颗粒粒径和粒数

采用 FBRM 技术 的 ParticleTrack G400 是直接插入到实验室反应器中的探头式仪器,以便在全工艺过程浓度下实时追踪颗粒粒径及粒数变化。 随着实验条件的变化,持续监测颗粒、颗粒结构和液滴为科学家提供足够证据以获得具有所需属性的一致颗粒。

颗粒粒径与粒数直接影响多相工艺中的性能,包括结晶、乳化和絮凝。 通过实时监测颗粒粒径与粒数,科学家能够使用基于证据的方法自信地了解、优化和放大实验过程。

在为离线分析进行采样和制备时,颗粒可能发生变化。 通过追踪过程中自然存在的颗粒的粒径与粒数的变化,科学家能够安全且无延迟地了解工艺过程 – 甚至是在极端温度与压力条件下。

随着实验条件的变化,通过连续监测颗粒,能够确定过程参数对颗粒粒径和粒数的影响。 这种独特的信息可用于设计能够持续提供具有优化特性的颗粒的过程。

 

纵览

实验室中 ParticleTrack G400 的常见应用包括:

• 结晶工艺开发

• 表征乳化和液滴系统

• 优化颗粒粒径分布

ParticleTrack G400 的主要特征:

• 设计紧凑,具有便携性,占用最小空间的实验室

• 探头可互换,可用于范围广泛的实验室规模(10mL 至 2L)

• 与 OptiMax 和 EasyMax 合成工作站无缝集成,进行最佳的实验设置

• iC FBRM 软件,进行快速、直观的颗粒数据分析

ParticleTrack G400 比以前的梅特勒-托利多 Lasentec FBRM 技术(S400 和 D600)有了重大改进。

 

• 实时研究颗粒粒径与粒数

科学家将 ParticleTrack 探头直接插入到过程流体中,以长时间连续监测颗粒粒径与粒数,而无需采样。 这种独特的信息成为有效了解涉及晶体、颗粒和液滴的过程的基础。

• 借助 ParticleTrack将过程与颗粒系统相关联

科学家可以定期确定过程参数如何影响颗粒系统。 可以确定过程参数对生长、团聚、破损和形状变化等机制的影响,从而可以使用基于证据的方法对过程进行优化和改进。

• 创建符合目的的颗粒系统

科学家使用 ParticleTrack 来确定如何稳定得到所需粒径和粒数的颗粒产品。 在研发、中试到投入生产的过程中,通过选择最佳的过程参数,科学家可以以较低的总成本快速向市场提供高品质的颗粒产品。

• 监测并纠正过程偏差

ParticleTrack 用于对生产中的既定过程进行监测、故障排除和改进。 可以安全地监测难以采样的复杂过程,确保一致地生产质量尽可能最高的颗粒。

 

规格 - ParticleTrack G400

测量范围 0.5 – 2000μm; 0.5-2000um
温度范围(主机/现场装置) 5 至35°C
主机说明 实验室主机
主机尺寸(高x宽x长) 89 mm x 237 mm x 492 mm
认证 CE 认证, 1 类激光, NRTL 认证, CB Scheme 认证
电源要求 100-240VAC, 50/60Hz, 1.2A
适用于 实验室: EasyMax/OptiMax
软件 iC FBRM
扫描系统 电子扫描仪
扫描速度 2m/s (19mm探头为1.2m/s)
弦长选择方法(CSM) Primary(精细)和 Macro(粗糙)
探头直径 14/9.5mm; 19mm探头; 9.5mm
探头浸湿长度 206mm (用于 14/9.5mm 探头); 400mm (用于 19mm 探头); 91mm (用于 9.5mm 探头)
探头浸湿合金 C22
窗口(W) 蓝宝石
标准窗口封条 Kalrez® (标准 19mm); TM(标准 14/9.5 ); TM(标准9.5,14/9.5)
探头/窗口选件 TM 窗口(用于19mm 探头的选件)
额定压力(探头) 3barg (标准); 高达 100barg (自定义)
额定温度(探头) -10 至 90°C (Kalrez 和清洗); -80 至 90°C (TM 和清洗); +10 至 90°C (标准)
导管长度 3m [9.8ft]
空气要求 低流量清洗(使用以避免冷凝物); 最大 流量: 5NL/min [0.2SCFM]; 清洗歧管的最大入口压力: 8.6barg [125 psig]; 清洗歧管的最大出口压力: 0.8barg [12psig]
ParticleTrack型号 ParticleTrack G400
物料号 (s) 14420890

 

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